BRUKER Nano - DektakXT - Mechanische profilometer - 2017

Geavanceerd hulpmiddel voor het meten van de hoogte van dunne en dikke filmtoonhoogtes. Naast het profileren van oppervlaktetopografie en golvingen meet het DektakXT-systeem de ruwheid op nanoschaal DE LIJST MET KAVELS IS NIET DEFINITIEF, BELANGRIJKE KAVELS WORDEN LATER TOEGEVOEGD, CONTROLEER ALSTUBLIEFT DE TOEGEVOEGDE KAVELS. De verkoop omvat alleen wat op de foto's te zien is. De koper stemt door de aanschaf van de apparatuur ermee in dat het apparaat moet worden gebruikt volgens de normen en wetgeving die in zijn land gelden. De verkoper wordt op geen enkele wijze verantwoordelijk gehouden voor misbruik dat niet voldoet aan de veiligheidsvoorwaarden en de geldende normen en wetgeving