BRUKER Nano - DektakXT - Mechanisches Profilometer - 2017

Fortschrittliches Messwerkzeug für Dünn- und Dickfilmhöhen. Neben der Profilierung der Oberflächentopographie und Undulierung misst das DektakXT-System die Rauheit im Nanomaßstab DIE LISTE DER GRUNDSTÜCKE IST NICHT ENDGÜLTIG, WICHTIGE GRUNDSTÜCKE WERDEN SPÄTER HINZUGEFÜGT, BITTE PRÜFEN SIE DIE HINZUGEFÜGTEN GRUNDSTÜCKE. Der Verkauf umfasst nur das, was auf den Fotos zu sehen ist. Der Käufer stimmt durch den Kauf der Ausrüstung zu, dass das Gerät gemäß den in seinem Land geltenden Standards und Gesetzen verwendet werden muss. Der Verkäufer wird in keiner Weise für Missbrauch haftbar gemacht, der nicht den Sicherheitsauflagen, den geltenden Standards und Gesetzen entspricht